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壓盤探頭 

TA/100 

通用壓盤探頭：以下壓方式可測樣品整體硬度(strength)，通過按壓可以測量米飯、年糕等米制品的硬度、彈性、咀嚼性、黏性等特性。 

柱形探頭 

TA/ 36R 

可用于TPA測試及單次下壓模式，通過按壓可以測量米飯、米糕、年糕等米制品的硬度、彈性、咀嚼性、黏性等特性。測量爆米花的酥脆度。 

針形探頭 

TA/2N 

針刺型探頭，通過穿刺深入樣品內(nèi)部測試質(zhì)地剖面。該探頭可以用來測試米通、米餅、爆米花等產(chǎn)品的破裂強度，從而分析餅干的硬度、脆性、咀嚼性等特性。 

球形探頭 

TA/0.5S 

直徑從0.25 - 1英寸的探頭。用于對米糕、年糕、米飯等米制品，可測樣品的硬度、彈性、粘性、咀嚼性等指標(biāo)。 

輕型切刀 

TA/LKB 

該探頭以壓力的方式來測量樣品的剪切硬度和可剪切性，.可測量米線、米粉等的切斷強度和硬度，反映樣品內(nèi)部的組成成分和添加劑對樣品的影響。在米線、米粉中主要測試氧化劑、鹽、乳化劑或酶等的添加對面筋強度的影響。AACC（16-50）標(biāo)準(zhǔn)，面條硬度測試。 

拉伸測試探頭 

TA/SPR 

該抗拉強度試驗臺，可測米線、米粉的斷裂強度和拉伸彈性，米線兩端嵌入上下兩輥子的中縫并旋轉(zhuǎn)2-3周以防面條滑動。輥子的設(shè)計確保了測試時樣品不致裂開、剪斷、，并使拉斷點只發(fā)生在中間的拉伸測試部分。 

鉗口探頭 

TA/VB 

該裝置可進行模擬人的牙齒咬斷食物的測試，樣品放在下鉗口內(nèi)，咀嚼動作由上鉗口撕裂食物的下壓動作測試；適用于米通的剪切，并可對生熟食品的纖維度進行測試。 

脆性斷裂支撐臺 

TA/CFS 

通過探頭下壓可用于測試米制小食品的酥脆性